晶圆 电荷积累损伤 协同效应 刻蚀工艺 集成电路 磁控管 等离子体 半导体干法刻蚀技术 原书第2版 野尻一男 溅射阈值
晶圆 电荷积累损伤 协同效应 刻蚀工艺 集成电路 磁控管 等离子体 半导体干法刻蚀技术 原书第2版 野尻一男 溅射阈值
所属类目:书籍/杂志/报纸 >> 电信通信
折后价    ¥48.9 原价  ¥48.90
掌柜 浙江新华书店旗舰店
所 在 地:浙江 杭州 已有0人购买
如果您喜欢此宝贝,记得分享给您的朋友,一起享优惠:
商品详情 相关说明