定量分析SoC系统SoC单粒子效应加固方法书籍 故障频率 科学出版 贺朝会著 纳米级系统芯片单粒子效应研究 子系统和不同模块 社
定量分析SoC系统SoC单粒子效应加固方法书籍 故障频率 科学出版 贺朝会著 纳米级系统芯片单粒子效应研究 子系统和不同模块 社
70.56¥70.56
贺朝会著 科学出版 故障频率
凤凰新华书店旗舰店
查看商品详情 点击展开
  • 相关推荐

    复制分享文案

    分享给好友

    点击一键复制

    复制口令购买
    ↓↓复制下方口令,打开手机淘宝,即可购买↓↓

    点击复制