失效机理 可靠性技术 测试 失效模式 芯片 物理特性 集成电路封装 周斌 集成电路失效分析技术可靠性评价方法书籍
失效机理 可靠性技术 测试 失效模式 芯片 物理特性 集成电路封装 周斌 集成电路失效分析技术可靠性评价方法书籍
143¥143.00
物理特性 可靠性技术 失效模式 芯片 周斌 失效机理 测试
万卷书海图书专营店
查看商品详情 点击展开
  • 相关推荐

    复制分享文案

    分享给好友

    点击一键复制

    复制口令购买
    ↓↓复制下方口令,打开手机淘宝,即可购买↓↓

    点击复制